活動介紹
面對日益複雜的挑戰，您是否希望有創新的解決方案，以幫助您應對簡化工作流程呢?
當前資料中心、高效能運算、以及人工智慧領域中，資料傳輸需求急劇增長，且記憶體容量需求持續擴大，成為市場發展的關鍵驅動因素。面對這一趨勢，為了確保硬體和軟體設計達到預期的性能標準，滿足相容性、除錯和驗證的需求，高效能的測試和測量方案變得至關重要。
本活動將匯聚Tektronix以及業界多家優秀合作夥伴的專業知識，深入探討當前最受關注的自動化測試解決方案，旨在協助工程師精準應對市場上不斷演進的挑戰，以突破現有訊號完整性的限制。
將是一個共同探索前沿科技、研討市場趨勢的絕佳機會，我們誠摯期待與您相聚，共同追求技術的進步與創新。
活動議程
| 時間 |
課程主題 |
課程大綱 |
講師 |
| 13:00 – 13:30 |
客戶報到 |
| 13:30 – 14:20 |
DDR5記憶體新特性分析與除錯技術
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本課程將深入分析DDR5 SDRAM的最新特性，解決高速訊號極限和應對資料產生呈指數成長的頻寬挑戰，探討其對資料中心存取大量資料的影響和應用。並且探索DDR5 SDRAM所帶來的突破，深入了解用於解決訊號存取和後 DFE 寫入眼圖分析的最新技術，以及讀寫脈衝組偵測技術。幫助工程師有效應對DDR5 SDRAM的測試挑戰，提高系統的效能和可靠性。
您將能學習DDR5 SDRAM的新功能和特性，掌握DDR5測試挑戰的解決方案，並提升在5G標準下資料中心存取大量資料的能力和效率。
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Jimmy Chung |
| 14:20 – 14:35 |
中場休息 |
| 14:35 – 15:25 |
PCIe5/6技術
測試與實踐
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本課程將從理論到實際，提供寶貴的知識和技能，探索PCIe5/6技術的核心概念和原理，
了解其在高速數據通信中的重要性和應用。除此之外，將深入探討如何測試PCIe5/6技術中的信號品質，確保信號準確地傳輸和接收。學習定義和測試一致性，以確保不同裝置在不同環境下能夠順利運作
您將能深入理解PCIe 5/6技術的核心概念、測試方法和應用前景，協助您更好地應對PCIe5/6技術的挑戰，並掌握在AI時代建立可靠的高速數據通信所需的關鍵技術和知識。
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Jacky Huang
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| 15:25 – 15:40 |
中場休息 |
| 15:40 – 16:30 |
應用USB技術的
測試與驗證
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本課程將深入探討USB介面的發展歷程、特性和應用，包括對傳輸速率、電氣規格和解碼規範的測試要求，尤其關注全新Type-C規格的更新和USB 4.0/4.0v2 規格的高速傳輸速率。介紹Tektronix最新的測試解決方案，幫助您縮短開發和驗證流程，助您應對USB技術的挑戰。
您將能學習並掌握Tektronix最新的測試解決方案，以應對USB技術的各種挑戰，並分享USB 的技術展望與未來趨勢。
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Robin Kuo
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TEK DAY 專屬好康
當日活動參與者，只要參加全程並完成問卷填寫，即可立即下載【課程講義】，
並持填寫完畢之QR Code 畫面，至報到處領取【Tektronix 特選紓壓禮】
(款式隨機)
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