活動介紹
在現今的資料中心(Data Center)、人工智慧 (AI) 和高效能運算領域，不斷增長的資料傳輸需求和持續擴展的記憶體容量需求，形成了市場發展的關鍵驅動因素。為了因應這一趨勢，工程師們必須面對更複雜的挑戰，以克服現有訊號完整性的侷限。
為確保硬體和軟體設計達到預期性能標準，滿足相容性、除錯和驗證的需求，高效能的測試和測量方案變得至關重要。Tektronix的使命是為您提供創新的解決方案，以解決您在日常工作中所遇到的各種挑戰並簡化您的工作流程。
即將於11月底舉辦的
台北場，議程安排為當前最受關注的熱門自動化測試解決方案，以協助工程師能針對最新的設計進行精確、可重複的測試，有力因應市場上不斷演進的挑戰。除此之外，本活動更匯聚了來自業界多家優秀合作夥伴的專業知識，提供一個充滿活力和互動的學習機會。我們期待您的參與，與我們一同共享這個科技盛宴，探索未來的可能性。
活動議程
| 時間 |
課程主題 |
課程大綱 |
講師 |
| 13:00 – 13:30 |
客戶報到 |
| 13:30 – 14:20 |
探討USB 相容性測試與解決方案
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USB (Universal Serial Bus) 是各種電子產品中最廣泛使用的傳輸介面，不但具備即插即用 &免驅動的特性，因此成為了電腦周邊設備和消費性電子產品的必要傳輸介面。
隨著全新Type-C規格的更新，新版本的USB 4.0/4.0v2 規格更是把傳輸速度提升至每秒40~80Gbps的速度，而這樣的高速傳輸速率也要求更加嚴格的電氣規格及新編解碼規範。
本課程將介紹Tektronix最新的測試解決方案，幫助您縮短開發和驗證流程，幫助您成功應對跨時代USB技術的挑戰。
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Robin Kuo |
| 14:20 – 14:35 |
中場休息 |
| 14:35 – 15:25 |
掌握DisplayPort最佳化的量測關鍵
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新一代的數位顯示介面，在性能和速度的提升後，帶來廣泛的應用，例如：notebook, 顯示器…等，提供以更高解析度來展現各種視覺效果。工程師們面對高速影像資料串的驗證挑戰，設計評估流程繁複耗時，時常必須承擔延遲產品上市的風險。
Tektronix了解您的痛點 : 將為您縮減相容性測試時間，進行準確、可重複的量測，以因應最新規格的相關合規需求。幫助您讓自家產品優於市場上的對手，在最短的時間內推出高品質的數位顯示介面產品。
本課程的設計內容，將帶領您一覽新一代DisplayPort數位顯示介面的測試解決方案 ，幫助您輕鬆簡化設計評估驗證流程，縮短產品上市時間，打造一個完美的數位顯示介面。
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Jacky Huang
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| 15:25 – 15:40 |
中場休息 |
| 15:40 – 16:30 |
解密 PCIe5 相容性測試與技術展望
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我們將帶領您深入解密 PCIe5技術的核心，進而了解相容性測試及定義，揭示如何在AI時代建立可靠的高速數據通信。
從理論到實際，探討如何測試信號品質，以確保信號準確地傳輸和接收。我們將學習定義和測試一致性，以確保不同裝置在不同環境下能夠順利運作。
本課程將為您提供寶貴的知識和技能，協助您更好地應對PCIe5技術的挑戰，並分享PCIe 的技術展望與未來趨勢。
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Jacky Huang
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TEK DAY 專屬好康
當日活動參與者，只要參加全程並完成問卷填寫，即可立即下載【課程講義】，
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