隨著生成式 AI 與大型語言模型的快速崛起,大規模分散式運算需求,推升伺服器間的互連頻寬成為 AI 算力的關鍵瓶頸。為擴展到 Terabit 等級的傳輸效益,單通道速率正邁向 224G,而這也帶來從晶片到系統層級的嚴峻設計與驗證挑戰。
本次議程將深入探討次世代高速介面技術,從矽光子 (SiPh) 與共封裝光學 (CPO) 的混合式架構談起,剖析突破傳統傳輸瓶頸的關鍵技術。隨著速率提升,從光訊號眼圖驗證、PCB 與光學元件高達 110 GHz 的頻寬特性,到 示波器 (Scope) 與向量網路分析儀 (VNA) 等量測工具的應用要求,都成為設計與測試的核心課題。同時,PCIe 也已進入 6.0 並邁向 7.0 世代,PAM 調變技術雖大幅提升效率,卻使收發器設計與 TRx 測試、一致性驗證變得更為複雜。透過產業專家深入剖析,本場峰會將從設計、測試到驗證的多層面探討,協助工程師迎接 T 位元時代的高速互連挑戰,共同推進 AI 計算架構的技術革新。
活動議程
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時間 |
主題 |
主講者 |
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09:20 - 09:40 |
來賓報到 |
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09:40 - 09:50 |
開場簡介 |
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09:50 - 10:20 |
Optical Interconnect in Al GPU Link Scalability |
David Chang AuthenX |
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10:20 - 10:50 |
Test Vision of Wafer Level SiPh Measurement |
Hawk Liao Formfactor |
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10:50 - 11:20 |
Coffee Break & Booth Tour |
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11:20 - 11:50 |
High Frequency Challenge on VNA – from PCB, Cable to Silicon Photonics Verify Beyond 110GHz |
Navneet Kataria Anritsu |
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11:50 - 13:10 |
Lunch Break & Booth Tour |
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13:10 - 13:35 |
Forward to 1.6T CPO – The Challenge of 224G Signal Verify |
Furuya Takashi Anritsu |
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13:35 - 14:05 |
High Speed Interconnect Performance in 224G CPC/CPO System |
Ray Chien Samtec |
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14:05 - 14:30 |
PCIe 6.0/7.0 TRx Electrical Compliance Test Challenges |
Jacky Huang Tektronix |
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14:30 - 15:00 |
Coffee Break & Booth Tour |
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15:00 - 15:30 |
High-Speed Interconnects — Bridging a New Era Between Substrate and System |
David Chen iST |
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15:30 - 15:55 |
Mastering PAM3/PAM4: The Future of High-Speed Testing |
Leon Lin Teledyne LeCroy |
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15:55 - 16:20 |
HSB Compliance Rx Challenge on PAM4 - PCIe 6.0 and USB4v2 Rx |
Arvin Wang Anritsu |
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16:20 - 16:30 |
交流時間 / 抽獎 |